Электронный сканирующий микроскоп Phenom PRO-X

      Уникальная конструкция позволяет применять настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom для решения большого числа разнообразных задач материаловедения, контроля качества на производстве, криминалистики, фармацевтики, научно-исследовательских задач в биологии и для обучения студентов и специалистов.

      Электронный сканирующий микроскоп Phenom PRO-X

       

      Краткая характеристика микроскопа Phenom PRO-X:

      Режимы работы

      Оптический

      Увеличение 20–135x

      Электронно-оптический   

      Диапазон увеличений:   от 80x до 100 000x

      Минимальное поле зрения

      2,5 мкм при увеличении 100 000x

      Ускоряющее напряжение

      5 кВ, 10 кВ, 15 кВ

      Разрешение

      17 нм

      Предметный столик

      Моторизованный по X и Y, управляется компьютером

      Размер образца

      Диаметр до 25 мм, высота до 100 мм

      Система ЭДС (энерго-дисперсионная спектрометрия) микроанализа

      Детектор

      Кремниевый дрейфовый детектор SDD,
      Термоэлектрическое охлаждение без жидкого азота

      Активная площадь детектора

      25 мм2

      Окно детектора

      Ультратонкое окно нитрида
      кремния Si3N4

      Определение элементов

      от С (углерод) до Am (Америций)